Pattern matching method, image processing device, and computer program

WO2012001876 Art A1 5. Januar 2012

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012001876
Aktenzeichen: EP11800352
Anmeldetag: 30. Mai 2011
Veröffentlichung: 5. Januar 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00G01B11/00G01N23/225G06T1/00H01J37/22

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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