Wavefront aberration measuring apparatus and wavefront aberration measuring method

WO2012001929 Art A1 5. Januar 2012

Anmelder: Panasonic Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012001929
Aktenzeichen: EP11800400
Anmeldetag: 24. Juni 2011
Veröffentlichung: 5. Januar 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01M11/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Panasonic Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Panasonic

Japanischer Konzern, der Haushaltsgeräte, Unterhaltungselektronik, Batterien sowie Komponenten und Lösungen für Industrie und Automobilbau entwickelt und herstellt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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