Substrate, substrate production method, nd filter, and optical characteristic measurement device
WO2012005217
Art A1
12. Januar 2012
Anmelder: Sumitomo Electric Industries, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012005217
- Aktenzeichen
- EP11803551
- Anmeldetag
- 4. Juli 2011
- Veröffentlichung
- 12. Januar 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C04B35/443G01M11/00G02B5/00G11B7/135
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Sumitomo Electric Industries, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sumitomo Electric Industries
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Osaka, Teil der Sumitomo-Gruppe. Aktiv in Kabel- und Glasfasertechnologie, Halbleitern, Automobilkomponenten sowie Elektronik- und Werkstofftechnik.
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