Charged particle beam device, defect supervision device, and management server

WO2012008096 Art A1 19. Januar 2012

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012008096
Aktenzeichen: EP11806433
Anmeldetag: 22. Juni 2011
Veröffentlichung: 19. Januar 2012
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/24H01J37/22H01J37/28H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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