Probe pin for semiconductor inspection devices, method for producing same, and semiconductor inspection method

WO2012008128 Art A1 19. Januar 2012

Anmelder: Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012008128
Aktenzeichen: EP11806463
Anmeldetag: 7. Juli 2011
Veröffentlichung: 19. Januar 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/067

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kobe Steel

Japanischer Mischkonzern mit Sitz in Kobe, gegründet 1905. Tätigkeitsfelder umfassen Stahl- und Aluminiumerzeugnisse, Maschinenbau sowie Werkstofftechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von