Probe pin for semiconductor inspection devices, method for producing same, and semiconductor inspection method
WO2012008128
Art A1
19. Januar 2012
Anmelder: Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012008128
- Aktenzeichen
- EP11806463
- Anmeldetag
- 7. Juli 2011
- Veröffentlichung
- 19. Januar 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R1/067
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kobe Steel
Japanischer Stahl- und Maschinenbaukonzern mit Sitz in Kobe, tätig in den Bereichen Stahl, Aluminium, Maschinenbau und Schweißtechnik.
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