Interlayer insulating layer formation method and semiconductor device
WO2012011480
Art A1
26. Januar 2012
Anmelder: Tokyo Electron Limited 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012011480
- Aktenzeichen
- EP11809650
- Anmeldetag
- 20. Juli 2011
- Veröffentlichung
- 26. Januar 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/318C23C16/455C23C16/511H01L21/31H01L21/768
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tokyo Electron Limited
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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