Method for x-ray diffraction, and device therefor

WO2012015053 Art A1 2. Februar 2012

Anmelder: Rigaku Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012015053
Aktenzeichen: EP11812642
Anmeldetag: 29. Juli 2011
Veröffentlichung: 2. Februar 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/207

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Rigaku Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Rigaku

Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.

281 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von