Material screening apparatus

WO2012015077 Art A1 2. Februar 2012

Anmelder: Korea Institute of Science and Technology 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012015077
Aktenzeichen: EP10855349
Anmeldetag: 27. Juli 2010
Veröffentlichung: 2. Februar 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01N25/20G01N25/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Korea Institute of Science and Technology
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Institute of Science and Technology

Südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut mit Sitz in Seoul, das interdisziplinäre Forschung in Naturwissenschaften, Ingenieurwesen und Materialtechnologie betreibt und zahlreiche Patente aus seinen Instituten hervorbringt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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