Einrichtung zur Lückenlosen Einstellung von Spektrometer-Spaltbreiten

WO2012016761 Art A1 9. Februar 2012

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012016761
Aktenzeichen: EP11741534
Anmeldetag: 27. Juni 2011
Veröffentlichung: 9. Februar 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G02B5/00G02B21/00G01J3/04

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Leica Microsystems CMS GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

770 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von