Method for manufacturing semiconductor wafer provided with adhesive layer, photosensitive adhesive, and semiconductor device
WO2012017955
Art A1
9. Februar 2012
Anmelder: Hitachi Chemical Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012017955
- Aktenzeichen
- EP11814581
- Anmeldetag
- 29. Juli 2011
- Veröffentlichung
- 9. Februar 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/52C09J4/00C09J201/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi Chemical Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi Chemical
Ehemaliges japanisches Chemieunternehmen, das Materialien für Halbleiter, Batterien und Verbundwerkstoffe herstellte. Ging nach mehreren Umfirmierungen im Konzern Resonac auf.
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Vertreten von
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