Optical scan device
WO2012020788
Art A1
16. Februar 2012
Anmelder: Shinano Kenshi Kabushiki Kaisha, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012020788
- Aktenzeichen
- EP11816452
- Anmeldetag
- 10. August 2011
- Veröffentlichung
- 16. Februar 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02B26/10B81B3/00H04N1/113
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Shinano Kenshi Kabushiki Kaisha
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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