Scanning Microscope

WO2012020811 Art A1 16. Februar 2012

Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2012020811
Aktenzeichen
EP11816475
Anmeldetag
10. August 2011
Veröffentlichung
16. Februar 2012
Rechtsraum
WO
IPC
G02B21/06G02B21/36
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Nikon Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

5.282 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen