Verfahren zur Herstellung einer Messspitze für ein Rastersondenmikroskop sowie Messsonde mit nach Diesem Verfahren Hergestellter Messspitze
WO2012028314
Art A1
8. März 2012
Anmelder: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012028314
- Aktenzeichen
- EP11755271
- Anmeldetag
- 31. August 2011
- Veröffentlichung
- 8. März 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01Q70/12G01Q70/14B82Y35/00C23C16/27C23C16/56C30B29/04C30B33/08B82Y15/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Fraunhofer-Gesellschaft
Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Betreibt anwendungsorientierte Forschung in Technik und Naturwissenschaften über zahlreiche Institute für Industrie und Gesellschaft.
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