Device for high spatial resolution chemical analysis of a sample and method of high spatial resolution chemical analysis

WO2012030715 Art A1 8. März 2012

Anmelder: UT-Battelle, LLC 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012030715
Aktenzeichen: EP11822429
Anmeldetag: 29. August 2011
Veröffentlichung: 8. März 2012
Rechtsraum: WO
IPC: H01H49/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: UT-Battelle, LLC
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 UT-Battelle

UT-Battelle ist der Betreiber des Oak Ridge National Laboratory in den USA, ein Gemeinschaftsunternehmen der University of Tennessee und des Battelle Memorial Institute. Das Patentportfolio deckt breit Halbleiterbauelemente, Mess- und Prüftechnik sowie Metallurgie und Werkstoffe ab. Anmeldungen sind seit 2000 dokumentiert.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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