Method for testing data retention characteristics of resistive random access memory device

WO2012031489 Art A1 15. März 2012

Anmelder: Peking University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2012031489
Aktenzeichen
EP11823012
Anmeldetag
19. Mai 2011
Veröffentlichung
15. März 2012
Rechtsraum
WO
IPC
G11C29/56
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Peking University
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Peking University

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