X-ray differential phase contrast imaging using a two-dimensional source grating with pinhole apertures and two-dimensional phase and absorption gratings

WO2012032950 Art A1 15. März 2012

Anmelder: Canon Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012032950
Aktenzeichen: EP11769948
Anmeldetag: 23. August 2011
Veröffentlichung: 15. März 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Canon Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Canon

Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, der Kameras, Objektive, Drucker, Kopiergeräte sowie optische und medizinische Bildgebungstechnik entwickelt und herstellt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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