Defect inspection device and method for light-emitting diode elements

WO2012033320 Art A2 15. März 2012

Anmelder: Kyungpook National University Industry- Academic Cooperation Foundation 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012033320
Aktenzeichen: EP11823753
Anmeldetag: 6. September 2011
Veröffentlichung: 15. März 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01M11/02H01L33/00G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kyungpook National University Industry- Academic Cooperation Foundation
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Kyungpook National University Industry-Academic Cooperation Foundation

Technologietransfer-Stiftung der staatlichen Kyungpook National University in Südkorea, zuständig für Forschungskooperationen und Patentverwertung. Patente decken ein breites Spektrum universitärer Forschung ab.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von