Scanning probe microscope and surface shape measuring method using same
WO2012035826
Art A1
22. März 2012
Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012035826
- Aktenzeichen
- EP11824838
- Anmeldetag
- 20. Mai 2011
- Veröffentlichung
- 22. März 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01Q10/06G01Q30/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
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