Lens array and method for detecting lens edge thereof

WO2012036150 Art A1 22. März 2012

Anmelder: Enplas Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012036150
Aktenzeichen: EP11825152
Anmeldetag: 13. September 2011
Veröffentlichung: 22. März 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G02B3/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Enplas Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Enplas

Enplas ist ein japanischer Hersteller optischer und feinmechanischer Kunststoffkomponenten, unter anderem für Displays, Steckverbinder und Halbleitertests. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Optik und Fototechnik sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Mess- und Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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