A method for correction of inefficiencies of a single photon counting detector system at high photon rates and single photon counting detector system

WO2012041659 Art A1 5. April 2012

Anmelder: PAUL SCHERRER INSTITUT 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012041659
Aktenzeichen: EP11757245
Anmeldetag: 5. September 2011
Veröffentlichung: 5. April 2012
Rechtsraum: WO
IPC: H01L27/146H04N5/335G01T1/17

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: PAUL SCHERRER INSTITUT
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 PAUL Scherrer Institut

Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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