Resist composition for negative development which is used for foermation of guide pattern, guide pattern formation method, and method for forming pattern on layer containing block copolymer
Anmelder: Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd., Riken 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012046770
- Aktenzeichen
- EP11830702
- Anmeldetag
- 5. Oktober 2011
- Veröffentlichung
- 12. April 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/038G03F7/004G03F7/039G03F7/40
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.
Riken - Land
- 🇯🇵 Japan
Tokyo Ohka Kogyo (TOK) ist ein japanischer Chemiekonzern, der vor allem Fotolacke und Materialien für die Halbleiterfertigung herstellt. Das Portfolio konzentriert sich entsprechend auf Optik und Fototechnik sowie Halbleiter- und Bauelemente-Technik, ergänzt durch Kunststoff- und organische Chemie. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.
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Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.
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