Radiation detector and method for manufacturing radiation detector

WO2012056612 Art A1 3. Mai 2012

Anmelder: Shimadzu Corporation, Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012056612
Aktenzeichen: EP11835760
Anmeldetag: 10. Juni 2011
Veröffentlichung: 3. Mai 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01T1/24H01L27/14H01L27/146

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Shimadzu Corporation
Sharp Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

19.779 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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