Atomic layer deposition film with tunable refractive index and absorption coefficient and methods of making

WO2012057889 Art A1 3. Mai 2012

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012057889
Aktenzeichen: EP11836787
Anmeldetag: 28. Juli 2011
Veröffentlichung: 3. Mai 2012
Rechtsraum: WO
IPC: C23C16/44C23C16/448C23C16/50H01L21/205

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Applied Materials, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Metallurgie & Oberflächentechnik

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