Method for determining a spring constant for a deformable scanning probe microscope element, and scanning probe microscope and calibration device arranged for determining a spring constant for a probe element
WO2012064193
Art A1
18. Mai 2012
Anmelder: Technische Universiteit Delft 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012064193
- Aktenzeichen
- EP11785151
- Anmeldetag
- 11. November 2011
- Veröffentlichung
- 18. Mai 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01Q40/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Technische Universiteit Delft
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
Technische Universiteit Delft
Niederländische Technische Universität in Delft mit breiter Forschung in Ingenieurwissenschaften und angewandter Technik.
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