A method for forming a buried dielectric layer underneath a semiconductor fin
WO2012066049
Art A1
24. Mai 2012
Anmelder: IMEC 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012066049
- Aktenzeichen
- EP11802293
- Anmeldetag
- 16. November 2011
- Veröffentlichung
- 24. Mai 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/762
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- IMEC
- Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
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