Microscope spectrometer, optical axis shift correction device, spectroscope and microscope using same

WO2012070314 Art A1 31. Mai 2012

Anmelder: Yokogawa Electric Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012070314
Aktenzeichen: EP11843536
Anmeldetag: 3. Oktober 2011
Veröffentlichung: 31. Mai 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/65G01J3/26

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Yokogawa Electric Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Yokogawa Electric

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das Mess-, Steuerungs- und Automatisierungstechnik für Industrieprozesse sowie elektronische Messgeräte entwickelt und herstellt.

1.391 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von