Detection method for metal etching end point and detector for metal etching end point
WO2012071747
Art A1
7. Juni 2012
Anmelder: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. Ltd 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012071747
- Aktenzeichen
- EP10860230
- Anmeldetag
- 13. Dezember 2010
- Veröffentlichung
- 7. Juni 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/00G01L21/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. Ltd
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
China Star Optoelectronics (CSOT)
Chinesischer Displayhersteller mit Sitz in Shenzhen, Tochtergesellschaft des TCL-Konzerns. CSOT entwickelt und produziert LCD- und OLED-Panels für Fernseher, Monitore und mobile Endgeräte.
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