System frequency response test using continuous sweep frequencies

WO2012075123 Art A2 7. Juni 2012

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012075123
Aktenzeichen: EP11844517
Anmeldetag: 30. November 2011
Veröffentlichung: 7. Juni 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01R23/16

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Texas Instruments Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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