Vorrichtung, Produktionsanlage und Verfahren zur Charakterisierung von Materialgrenzflächen mit Thz - Strahlung, und Verwendung Derselben
WO2012084232
Art A1
28. Juni 2012
Anmelder: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., Friedrich-Schiller-Universität Jena 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012084232
- Aktenzeichen
- EP11808170
- Anmeldetag
- 21. Dezember 2011
- Veröffentlichung
- 28. Juni 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/63G01J3/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
Friedrich-Schiller-Universität Jena - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Fraunhofer-Gesellschaft
Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Betreibt anwendungsorientierte Forschung in Technik und Naturwissenschaften über zahlreiche Institute für Industrie und Gesellschaft.
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