Oxide for semiconductor layer of thin film transistor, sputtering target, and thin-film transistor

WO2012091126 Art A1 5. Juli 2012

Anmelder: Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2012091126
Aktenzeichen
EP11853507
Anmeldetag
28. Dezember 2011
Veröffentlichung
5. Juli 2012
Rechtsraum
WO
IPC
H01L29/786H01L21/336H01L21/363
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Kobe Steel

Japanischer Stahl- und Maschinenbaukonzern mit Sitz in Kobe, tätig in den Bereichen Stahl, Aluminium, Maschinenbau und Schweißtechnik.

665 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen