Analysis method of device electrical properties correlation and optimization method of device structure

WO2012097585 Art A1 26. Juli 2012

Anmelder: Institute Of Microelectronics, Chinese Academy Of Sciences 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012097585
Aktenzeichen: EP11856560
Anmeldetag: 10. August 2011
Veröffentlichung: 26. Juli 2012
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G06F17/50

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Institute Of Microelectronics, Chinese Academy Of Sciences
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences

Chinesisches Forschungsinstitut der Chinese Academy of Sciences mit Schwerpunkt auf Mikroelektronik und Halbleitertechnologie. Patente betreffen Chipdesign und Halbleiterfertigung.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Software & Datenverarbeitung

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