Device for detecting foreign matter and method for detecting foreign matter

WO2012108306 Art A1 16. August 2012

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012108306
Aktenzeichen: EP12744768
Anmeldetag: 1. Februar 2012
Veröffentlichung: 16. August 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/94G01B11/30G01N21/27G01N21/35H01M4/139

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von