Delay fault testing for chip i/o

WO2012115840 Art A2 30. August 2012

Anmelder: Rambus Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012115840
Aktenzeichen: EP12749494
Anmeldetag: 15. Februar 2012
Veröffentlichung: 30. August 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3183

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Rambus Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Rambus Inc.

Rambus ist ein US-amerikanisches Halbleiter- und Technologieunternehmen mit Sitz in Kalifornien. Die Patente betreffen Speicherschnittstellen, Chip-Sicherheit und Datenübertragung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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