Device for inspecting thin-film solar cell, method for inspecting thin-film solar cell, method for producing thin-film solar cell, and system for producing thin-film solar cell
WO2012121039
Art A1
13. September 2012
Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012121039
- Aktenzeichen
- EP12754233
- Anmeldetag
- 27. Februar 2012
- Veröffentlichung
- 13. September 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/26G01R31/02H01L31/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Sharp Kabushiki Kaisha
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sharp
Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.
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Vertreten von
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