Magnetic force microscope and high spatial resolution magnetic field measuring method

WO2012121308 Art A1 13. September 2012

Anmelder: Tokyo Institute of Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012121308
Aktenzeichen: EP12755139
Anmeldetag: 7. März 2012
Veröffentlichung: 13. September 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01Q60/50G01R33/12

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Anmelder

Firma: Tokyo Institute of Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Tokyo Institute of Technology

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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