A functional fabric-based test controller for functional and structural test and debug

WO2012121781 Art A1 13. September 2012

Anmelder: Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012121781
Aktenzeichen: EP11860251
Anmeldetag: 21. Dezember 2011
Veröffentlichung: 13. September 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G06F1/00G06F13/14

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Intel Corporation
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

26.633 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von