Methods and apparatus for testing inaccessible interface circuits in a semiconductor device

WO2012125719 Art A2 20. September 2012

Anmelder: Rambus Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012125719
Aktenzeichen: EP12757089
Anmeldetag: 14. März 2012
Veröffentlichung: 20. September 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3183

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Rambus Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Rambus Inc.

Rambus ist ein US-amerikanisches Halbleiter- und Technologieunternehmen mit Sitz in Kalifornien. Die Patente betreffen Speicherschnittstellen, Chip-Sicherheit und Datenübertragung.

661 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von