Testing method and semiconductor integrated circuit implementing said testing method

WO2012137340 Art A1 11. Oktober 2012

Anmelder: Fujitsu Limited 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012137340
Aktenzeichen: EP11862940
Anmeldetag: 7. April 2011
Veröffentlichung: 11. Oktober 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/12

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Fujitsu Limited
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujitsu

Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.

17.891 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung

Vertreten von