Bump electrode inspection method and bump electrode inspection system
WO2012140925
Art A1
18. Oktober 2012
Anmelder: Murata Manufacturing Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012140925
- Aktenzeichen
- EP12771709
- Anmeldetag
- 17. Januar 2012
- Veröffentlichung
- 18. Oktober 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/60G01R31/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Murata Manufacturing Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Murata Manufacturing
Japanisches Elektronikunternehmen mit Sitz in Kyoto. Murata entwickelt und produziert elektronische Bauelemente wie Kondensatoren, Sensoren und Kommunikationsmodule für Elektronikgeräte.
6.611 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.