Raman scattering measurement method and device

WO2012157254 Art A1 22. November 2012

Anmelder: Fujifilm Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012157254
Aktenzeichen: EP12786615
Anmeldetag: 15. Mai 2012
Veröffentlichung: 22. November 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/65

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Fujifilm Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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