X-ray inspection apparatus

WO2012157466 Art A1 22. November 2012

Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012157466
Aktenzeichen: EP12785886
Anmeldetag: 8. Mai 2012
Veröffentlichung: 22. November 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Omron Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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