Halbleiterkomponente mit Mikrobrücken zur Einstellung eines Zugdehnungszustandes und Verfahren zu Seiner Herstellung
Anmelder: Paul Scherrer Institut, ETH Zurich 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012159869
- Aktenzeichen
- EP12719001
- Anmeldetag
- 4. Mai 2012
- Veröffentlichung
- 29. November 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B81B3/00B81C1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Paul Scherrer Institut
ETH Zurich - Land
- 🇨🇭 Schweiz
Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.
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Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, Schweizer Hochschule mit Forschungsschwerpunkten in Natur-, Ingenieur- und Materialwissenschaften.
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