Thermal-responsiveness measurement method for thin-film shaped raw material and thin-film film thickness measurement device

WO2012161287 Art A1 29. November 2012

Anmelder: Konica Minolta, Inc. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012161287
Aktenzeichen: EP12790285
Anmeldetag: 24. Mai 2012
Veröffentlichung: 29. November 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01N25/16G01B11/06G01N21/21G01N21/27

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Konica Minolta, Inc.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Konica Minolta

Japanisches Technologieunternehmen, das Bürodrucksysteme, Multifunktionsgeräte, optische Geräte sowie Mess- und Sensortechnik herstellt.

8.773 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen