Contour-based defect detection using an inspection apparatus
WO2012161874
Art A2
29. November 2012
Anmelder: Kla-Tencor Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012161874
- Aktenzeichen
- EP12789710
- Anmeldetag
- 9. April 2012
- Veröffentlichung
- 29. November 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/66H01J37/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kla-Tencor Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
KLA Corporation
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
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