Sample treatment device, sample treatment method, and reaction container for use therein

WO2012165187 Art A1 6. Dezember 2012

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012165187
Aktenzeichen: EP12792863
Anmeldetag: 21. Mai 2012
Veröffentlichung: 6. Dezember 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01N35/02G01N1/00G01N1/10G01N1/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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