Device for measuring the characteristics of an x-ray beam
WO2012168601
Art A1
13. Dezember 2012
Anmelder: Centre National de la Recherche Scientifique 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012168601
- Aktenzeichen
- EP12717385
- Anmeldetag
- 27. März 2012
- Veröffentlichung
- 13. Dezember 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01T1/169G01T1/29
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Centre National de la Recherche Scientifique
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Französische staatliche Forschungsorganisation mit Sitz in Paris. Betreibt Grundlagen- und angewandte Forschung in nahezu allen wissenschaftlichen Disziplinen über zahlreiche Institute und Labore.
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