Sputtering target, method for manufacturing sputtering target, and method for forming thin film
WO2012169449
Art A1
13. Dezember 2012
Anmelder: Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2012169449
- Aktenzeichen
- EP12796648
- Anmeldetag
- 28. Mai 2012
- Veröffentlichung
- 13. Dezember 2012
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C23C14/34H01L21/363
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Semiconductor Energy Laboratory
Japanisches Forschungsunternehmen mit Sitz in Atsugi. Semiconductor Energy Laboratory (SEL) forscht an Halbleitertechnologien, Flüssigkristall- und OLED-Displays sowie Dünnschichttransistoren.
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