Methods of identifying original and counterfeit articles using micro x-ray diffraction mapping

WO2012174232 Art A2 20. Dezember 2012

Anmelder: New York University 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012174232
Aktenzeichen: EP12801112
Anmeldetag: 14. Juni 2012
Veröffentlichung: 20. Dezember 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/20G01N33/15

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: New York University
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 New York University

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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