Defect correction device and defect correction method

WO2012176566 Art A1 27. Dezember 2012

Anmelder: NTN Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2012176566
Aktenzeichen: EP12802257
Anmeldetag: 21. Mai 2012
Veröffentlichung: 27. Dezember 2012
Rechtsraum: WO
IPC: G02B5/20

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: NTN Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NTN

Japanischer Hersteller von Wälzlagern mit Sitz in Osaka. NTN entwickelt Kugellager, Rollenlager und Antriebswellen für Automobil-, Maschinenbau- und Industrieanwendungen.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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