Method and system for testing integrated radio-frequency circuits at the wafer level and the use thereof

WO2013001131 Art A1 3. Januar 2013

Anmelder: Consejo Superior De Investigaciones Científicas (CSIC) 🇪🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013001131
Aktenzeichen: EP12803779
Anmeldetag: 29. Juni 2012
Veröffentlichung: 3. Januar 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H01L23/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Consejo Superior De Investigaciones Científicas (CSIC)
Land: 🇪🇸 Spanien

🇪🇸 Consejo Superior de Investigaciones Científicas

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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